材料及器件表征
M 测试定价更改
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类别 | 项 目名称 | 定价 |
光 电 器 件 测 试 | XRD 残余应力 | 400/样 |
稳态时间分辨光谱（PL）（可 测锡铅） | 80/样 | |
瞬态时间分辨光谱（TRPL） | 80/样 | |
瞬态吸收光谱(TA) | 1200/样，改波长 1800/样 | |
紫外（ 吸收、透射、反射） | 80/样 | |
原位紫外吸收 | 1000/样 | |
TPV+TPC | 320/样 | |
EIS | 120/样 | |
CV | 120/样 | |
PLQY | 240/样 | |
SCLC | 200/样 | |
理想因子 | 400/样 | |
稳态输出 | 200/样 | |
MPPT （最大 20cm*20cm） | 按照情况收取费用 | |
GIWAX | 1800/样 | |
单晶 SCLC | 360/样 | |
PLQY 及 QFLS/iVOC 变激发强度下 PLQY 及 QFLS/iVOC |
120/样 | |
360/样 |
光 电 形 貌 分 析 | 扫描电子显微镜（SEM） | 80/样，喷金 50 |
KPFM | 600/样 | |
原位 PL | 1000/样 | |
AFM | 300/样 | |
PL mapping | 560/样 | |
激光共聚焦 | 640/样 | |
光学显微镜 | 500/样 | |
AFM-杨氏模量 | 700/样 | |
C-AFM | 900/样 | |
接触角 | 100/样 | |
膜厚 | 100/样 | |
高分辨 XRD | 100/样 | |
热重（TG) | 150/样 | |
动态光散射(DLS) | 200/样 | |
单晶X 射线探测 | 560/样 | |
热导纳谱(TAS) | 1500/样 | |
变温 PL | 100/温度点，6 个起测 | |
霍尔效应 | 200/样 | |
傅里叶红外变换光谱 | 120/样 | |
核磁 | H 谱 50\样，C 谱 60\样 | |
拉曼 | 200/样 | |
成 分 含 量 分 析 | TOF-SIMS | 只测单模式，2000/样 |
EQE （ 可测叠层） | 300/样 | |
EDS | 80/样，喷金 50 | |
XPS | 200（ 七元素以内）/样 | |
UPS | 400/样 | |
理 论 计 算 | 有限元分析 | 按照情况收取费用 |
DFT 密度泛函理论 | 按照情况收取费用 | |
DFT/第一性原理 | 视体系而定 |
离子迁移活化能 | 3600/样 | |
其 他 | 科研绘图 | 按照情况收取费用 |
